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取吉時(shí)利使用脈沖I-號(hào)代替直流信號(hào)
進(jìn)行器件特性分析的免費(fèi)指南
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吉時(shí)利已建立了使用脈沖I-V或超快測試方法的指南,。主題包括:
器件的通用脈沖I-V測試
CMOS器件特性分析
非易失存儲(chǔ)設(shè)備測試
復(fù)合半導(dǎo)體器件和材料
納米技術(shù)和MEMS器件
太陽能電池
使用脈沖I-號(hào)可以研究或降低自發(fā)熱(焦耳熱)的影響,,還可以zui小化由俘獲電荷引起的電流漂移或測量退化,。瞬態(tài)I-V測量能讓科學(xué)家或工程師采集時(shí)域的超高速電流或電壓波形或者研究動(dòng)態(tài)測試電路,。脈沖源能在可靠性周期中用交流信號(hào)進(jìn)行器件應(yīng)力測試或者在多電平波形模式下設(shè)置/擦除存儲(chǔ)器件。
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