HAST 老化試驗箱評估電路板性能變化試驗方法

一,、前言：

隨著電子產(chǎn)品在復雜環(huán)境下的應用日益廣泛，電路板作為其核心組件，其在高溫,、高濕度環(huán)境下的可靠性備受關注,。HAST（Highly Accelerated Stress Test）老化試驗箱能夠模擬環(huán)境條件,，評估電路板的性能變化,。

二、試驗準備：

1.樣品選擇：選取具有代表性的電路板,，記錄其初始電氣性能參數(shù)（如電阻,、電容、電感值等）,、外觀特征（包括焊點完整性,、元件安裝情況等），并對電路板進行清潔處理,，確保無雜質,、灰塵等影響試驗結果的因素。

2.設備檢查：確保 HAST 老化試驗箱功能正常,，檢查其溫度傳感器、濕度傳感器,、壓力控制系統(tǒng),、加熱與加濕裝置以及安全保護裝置是否處于良好狀態(tài)。對試驗箱進行預熱或預運行,，使其內(nèi)部環(huán)境達到穩(wěn)定的初始狀態(tài)（如常溫,、常濕），并校準相關參數(shù),，確保顯示數(shù)值與實際環(huán)境參數(shù)的誤差在允許范圍內(nèi),。

3.輔助器材：準備好測試連接線纜、數(shù)據(jù)采集設備（如示波器,、萬用表,、數(shù)據(jù)記錄儀等）以及用于固定電路板的夾具，保證測試連接可靠,，夾具不會對電路板造成額外的應力或損傷,，同時數(shù)據(jù)采集設備經(jīng)過校準且能夠準確記錄所需的各項性能數(shù)據(jù)。

三,、試驗設置：

將以上設定好的溫濕度條件,、時間參數(shù)以及升溫,、保濕,、降溫等過程的變化速率輸入 HAST 試驗箱的控制系統(tǒng)，確保試驗箱能夠按照預定的程序自動運行,，并在每個階段保持穩(wěn)定的環(huán)境條件,。同時，設置好數(shù)據(jù)采集的時間間隔和觸發(fā)條件,，使其能夠同步記錄電路板在試驗過程中的性能變化數(shù)據(jù),。

四、試驗操作：

1.樣品安裝：將待測試電路板小心地放置在試驗箱內(nèi)的專用夾具上,，確保電路板與夾具接觸良好且固定牢固,，避免在試驗過程中因振動或位移而導致連接松動或損壞。連接好測試線纜,，使電路板與外部的數(shù)據(jù)采集設備形成完整的測試回路,，但要注意線纜的布置不應影響試驗箱內(nèi)的溫濕度均勻性，也不能對電路板造成額外的拉扯或壓迫,。

2.啟動試驗：關閉試驗箱門,，確保密封良好后，啟動 HAST 老化試驗箱,。觀察試驗箱的運行狀態(tài),，確認加熱、加濕,、壓力調節(jié)等系統(tǒng)開始正常工作,，各項參數(shù)逐漸上升并趨近于設定值。同時,，啟動數(shù)據(jù)采集設備,，開始記錄電路板的初始性能數(shù)據(jù)作為基線參考。

3.過程監(jiān)控：在試驗過程中,，通過試驗箱的觀察窗或監(jiān)控系統(tǒng),，定期檢查電路板的外觀是否有異常變化（如元件變色、冒煙,、焊點開裂,、起泡等），同時密切關注試驗箱的溫濕度和壓力數(shù)值是否穩(wěn)定在設定范圍內(nèi),。若發(fā)現(xiàn)異常情況（如環(huán)境參數(shù)失控,、電路板出現(xiàn)明顯損壞跡象等），應立即停止試驗,，并記錄下故障發(fā)生的時間和現(xiàn)象,，以便后續(xù)分析原因。

4.數(shù)據(jù)記錄：按照預設的數(shù)據(jù)采集時間間隔,，持續(xù)記錄電路板的各項性能參數(shù)（如電氣性能的變化值,、可能出現(xiàn)的信號失真情況,、傳輸特性的改變等）。確保數(shù)據(jù)記錄的準確性和完整性,，將數(shù)據(jù)存儲在合適的存儲介質中,，并做好備份，防止數(shù)據(jù)丟失,。

五,、試驗后檢測：

1.樣品取出：在試驗結束后，等待試驗箱內(nèi)的溫度和濕度自然下降至安全范圍內(nèi)（接近室溫,、常濕）,，然后小心地打開試驗箱門，取出電路板,。避免因溫度驟變或濕度差異導致電路板表面產(chǎn)生冷凝水,，進而影響測試結果或對電路板造成二次損傷。

2.外觀檢查：對取出的電路板進行全面的外觀檢查,，詳細記錄元件的損壞情況（如破裂,、燒焦、脫落等）,、焊點的完整性（是否有虛焊,、脫焊、橋接等現(xiàn)象）以及電路板表面的涂層,、標識等是否有褪色,、剝落或起泡等問題。使用高分辨率的顯微鏡或放大鏡對關鍵部位（如焊點,、引腳與焊盤的結合處,、微小元件等）進行仔細觀察,，拍攝清晰的照片作為外觀檢查的記錄資料,，以便與試驗前的狀態(tài)進行對比分析。

3.性能測試：使用測試設備對電路板的各項性能指標進行再次測試,，包括但不限于電氣性能（如電阻,、電容、電感的測量,，信號傳輸?shù)耐暾?、電源完整性等）、功能測試（確保電路板能夠正常實現(xiàn)其預定的功能,，如數(shù)據(jù)處理,、信號轉換、控制邏輯等）以及可靠性指標（如絕緣電阻,、耐壓強度等）,。將測試結果與試驗前記錄的初始性能參數(shù)進行對比,，計算各項性能指標的變化率，評估電路板在經(jīng)過 HAST 老化試驗后的性能衰減程度,。