第一章緒�1
第一節(jié)X射線熒光光譜的產(chǎn)生及其特�(diǎn)1
第二節(jié)X射線熒光分析技�(shù)的新�(yīng)�1
一,、在生物,、生命及�(huán)境領(lǐng)域中的應(yīng)�1
二、在材料及毒性物品監(jiān)測中的應(yīng)�2
第三節(jié)X射線熒光光譜儀研制�(jìn)�2
參考文�(xiàn)3
第二章基本原�4
第一節(jié)特征X射線的產(chǎn)生與特�4
一,、特征X射線4
�,、特征譜線系5
�,、譜線相對強(qiáng)�8
�,、熒光產(chǎn)�8
第二節(jié)X射線吸收9
一,、X射線衰減9
二、吸收邊9
�,、吸收躍�10
�,、質(zhì)量衰減系�(shù)的計(jì)�10
第三節(jié)X射線散射11
一、相干散�11
�,、非相干散射11
第四節(jié)X射線熒光光譜分析原理13
第五節(jié)X射線衍射分析13
參考文�(xiàn)14
第三章激�(fā)�15
第一節(jié)常規(guī)X射線光管15
一,、光管結(jié)�(gòu)與工作原�15
二、連續(xù)X射線�16
�,、特征X射線�16
�,、光管特�17
第二節(jié)液體金屬陽極X射線光管18
第三節(jié)冷X射線光管19
第四節(jié)單色與選擇激�(fā)19
一、濾光片19
�,、二次靶20
第五節(jié)同位素源20
第六節(jié)同步輻射光源與粒子激�(fā)21
第七節(jié)聚束毛細(xì)管X射線透鏡22
第八節(jié)X射線激光光�23
參考文�(xiàn)24
第四章探測器25
第一節(jié)波長色散探測�25
一,、流氣式氣體正比�(jì)�(shù)�25
二、NaI閃爍�(jì)�(shù)�26
�,、波長色散探測器的逃逸峰27
第二節(jié)能量探測�28
一,、能量探測原�28
二、能量探測器組成與特�28
�,、能量探測器的逃逸峰30
第三節(jié)新型能量探測�30
一,、Ge探測�30
二、SiPIN探測�31
�,、Si漂移探測器(SDD�34
�,、電耦合陣列探測器(CDD�35
五、超�(dǎo)躍變微熱量感�(yīng)器(TES�35
�,、超�(dǎo)隧道�(jié)探測器(STJ�36
�,、CdZnTe探測�37
八、鉆石探測器(CVDD�39
�,、無定形硅探測器(ASi�40
第四節(jié)各種探測器性能比較41
一,、波長色散與能量色散能力41
二、探測器分辨率比�41
�,、探測器的選�42
參考文�(xiàn)44
第五章X熒光光譜儀47
第一節(jié)波長色散X射線熒光光譜儀47
一,、X射線光管、探測器與光譜儀�(jié)�(gòu)47
�,、分光晶體及分辨�48
�,、脈沖放大器和脈高分析器48
第二節(jié)能量色散X射線熒光光譜儀50
第三節(jié)同位素源激�(fā)X射線熒光光譜儀51
第四節(jié)偏振激�(fā)X射線熒光光譜儀52
第五節(jié)全反射X射線熒光光譜儀53
第六節(jié)同步輻射X射線熒光光譜儀55
第七節(jié)聚束毛細(xì)管透鏡微束XRF光譜儀56
參考文�(xiàn)57
第六章定性與定量分析方法58
第一節(jié)定性分�58
第二節(jié)定量分析59
一、獲取譜峰凈�(qiáng)�60
�,、干擾校�60
�,、濃度計(jì)�61
第三節(jié)�(shù)�(xué)校正�62
第四節(jié)�(shí)�(yàn)校正方法62
一,、標(biāo)�(zhǔn)�62
二、內(nèi)�(biāo)�63
�,、標(biāo)�(zhǔn)添加�64
�,、散射線�(nèi)�(biāo)�64
第五節(jié)�(shí)�(yàn)校正�(shí)例——散射線校正方法64
一、散射效�(yīng)與利�64
�,、濾光片對Compton峰和分析譜線的影�65
�,、準(zhǔn)直器直徑對譜線的影響67
四、Compton峰位隨濾光片材料的原子序�(shù)增加而產(chǎn)生漂�68
參考文�(xiàn)69
第七章基本校�71
第一節(jié)基本參數(shù)�72
一,、理論熒光強(qiáng)�72
�,、相�(guān)基本參數(shù)�(jì)�75
三、基本參�(shù)�76
第二節(jié)理論校正系數(shù)77
一,、基本影響系�(shù)77
�,、理論校正系�(shù)81
三、系�(shù)變換84
參考文�(xiàn)85
第八章分析誤差和�(tǒng)�(jì)不確�87
第一節(jié)分析誤差和分布函�(shù)87
一,、分析誤�87
�,、分布函�(shù)88
第二節(jié)�(jì)�(shù)�(tǒng)�(jì)�(xué)88
第三節(jié)靈敏度、檢出限及XRF中的誤差來源89
一,、靈敏度和檢出限89
�,、XRF中的誤差來源90
第四節(jié)不確定度及不確定度計(jì)�90
一、測量不確定�90
�,、統(tǒng)�(jì)不確定度91
�,、誤差傳遞與不確定度91
四、不確定度計(jì)算式92
�,、平均值的不確定度
本書分十二章介紹了X射線熒光光譜分析的原�,,儀器主要部件,定性與定量分析方法,,基體校正與�(shù)�(jù)處理方法,,樣品制備技�(shù),具有共性的儀器校正方�,、日常維�(hù)知識和故障判斷原則等,。內(nèi)容豐富、新�,、翔�(shí),,在探測器技�(shù),、基體校�,、樣品制備、儀器維�(hù)等章節(jié)具有特色,�
本書可供X射線熒光光譜分析工作者學(xué)�(xí)參�,,同�(shí)也可作為高等�(xué)校與儀器分析相�(guān)專業(yè)師生的參考書,�